Делегация метрологов ВНИИОФИ во главе си.о. директора А. С. Батуринымв период с 11 по 16 сентября 2017 г. посетилаНациональный институт метрологии Китая (NIM). Метрологи ВНИИОФИ ознакомились с новинками эталонной базы NIM.
По результатам анализа выполнения «Программы совместных работ NIM-ВНИИОФИ на период 2015—2020 гг. г.» было согласовано несколько новых проектов, в частности, по разработке метрологического обеспечения измерений радиометрическими методами температур в диапазоне 2000?3500 °С. Китайская сторона выразила готовность приобрести ряд высокотемпературных «черных тел» для диапазона 2000−3500 °С, разработанных ВНИИОФИ.
Принято также решение о включении в план совместных работ раздела по цифровой медицине. В данный раздел войдут мероприятия по созданию методов дистанционной цифровой поверки и калибровки медицинских измерительных приборов, сличению медицинского эталонного оборудования и обмен соответствующими методами цифровой передачи и обработки результатов измерений.
Метрологи ВНИИОФИ также приняли участие во2-ой Китайской конференции по качеству. Был сделан доклад на тему «Метрологическое обеспечение качества». В процессе конференции были проведены встречи с ведущими специалистами в области качества из Китая, США, Японии, Европейского союза, Австралии. Нет сомнения, что данная поездка в Китай будет способствовать повышению качества оптико-физических измерений и укреплению деловых отношений между российскими и китайскими метрологами.